Ag/Al 手持式光谱仪用铝上镀银厚度标准片

Ag/Al 手持式光谱仪用铝上镀银厚度标准片

通过溅射或电镀方法将高纯度银沉积在铝基材上。是用于校准便携式手持XRF设备，以测量铝基材上镀银的产品。手持式光谱仪用铝上镀银标准片是坚固不易弯曲的材料，安装在带有十字线的阳极氧化铝板上，以方便手持XRF仪器的定位和校准。

铝上镀银厚度标准片选购指南：

以上为常用厚度，如需要特殊厚度或需要其他基材，请联系上海益朗仪器有限公司。

注意：

1.对于小于等于1微米（40μin）的厚度，交货标准的允许厚度偏差为±10％。

2.如果厚度> 1微米（40μin），则所交付标准的允许层厚度偏差为±15％。

3.均匀度：5％。

4.认证厚度不确定度（95％置信区间）±5％。

定义：

均匀度的定义是：（最大厚度–最小厚度）/平均

表示为百分比，其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。

由于箔片太脆弱而无法与手持式光谱仪一起使用，因此铝上镀银厚度标准片以独特的方式包装，以便与手持式光谱仪一起使用。标准设计允许用户在有或没有视频成像的情况下瞄准标准，以便校准便携式XRF仪器的薄膜厚度和材料分析测试。适合用于以下品牌但不限于以下品牌：尼通、伊诺斯、奥林巴斯、牛津、斯派克、日立、牛津、天瑞、浪声等。